在植物生態(tài)學(xué)研究中，葉面積指數是反應植物冠體特性的一個(gè)經(jīng)常被用到的指標。  

     目前，人們獲取葉面積指數的通用方法大致分為直接法和間接法兩種。直接法：是指采用不同的手段。如稱(chēng)重法、格子法、掃描法、模型法對離體的葉片直接進(jìn)行面積測量得出LAI值。間接法：指的是采用不直接接觸葉片的不同方法，如輻射法、網(wǎng)格法、圖像法等手段，先取得冠層的“孔隙度”，然后利用比爾定律推演模型，在一系列假設的基礎上計算出葉面積指數。

     直接法的優(yōu)點(diǎn)是葉片面積值的測定直觀(guān)準確，且無(wú)論何種冠層結構類(lèi)型都可以采用。缺點(diǎn)是必須破環(huán)冠層結構，無(wú)法在同一樣品點(diǎn)連續動(dòng)態(tài)的觀(guān)測。觀(guān)測的工作量大，效率低。

    間接法的優(yōu)點(diǎn)是不破壞冠層，可以同點(diǎn)連續觀(guān)測，但由于數學(xué)模型假設條件的限制，同一種模型內的準確性和重復性不夠理想。

    那么，如何準確而又快速地測定LAI呢？我們建議，可以將兩種方法結合起來(lái)。對于一個(gè)特定的結構（如，盛花期的棉花田），限定一個(gè)面積范圍，然后用剪下面積內的所有葉片（如果一個(gè)葉片一部分在范圍內，另一部分在范圍外，則取在范圍內的部分）。然后用Yaxin-1241葉面積儀測得總面積。將面積總值除以面積值便得LAI。選取3～5樣品點(diǎn)重復上述測量，求得LAI的平均值做為次冠層的LAI（A值）。隨后，用Yaxin-1201冠層儀獲取上述樣品點(diǎn)的平均LAI（B值）。然后，A/B=K,k值做為兩種方法的修訂系數。在隨后的測試中采用間接法以提高實(shí)驗效率，減少工作量。

   由此可見(jiàn)，Yaxin-1241葉面積儀也可以單獨用來(lái)做為測量葉面積指數(LAI) 的工具。用戶(hù)在選購冠層儀時(shí)可以根據自己的需要靈活選擇。

          Yaxin-1241葉面積儀

                 Yaxin-1201冠層儀

 北京雅欣理儀科技有限公司

2016年11月25日